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- SA-Stage-C單點(diǎn)反射測(cè)量支架
SA-Stage-C單點(diǎn)反射測(cè)量支架是一個(gè)光纖探頭支架，用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測(cè)量。 這一反射光纖探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的反射光纖探頭和其它取樣設(shè)備，可以在一個(gè)不銹鋼支柱上上下滑行，調(diào)節(jié)高度可達(dá)80mm。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-19 ￥面議
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- SH-721C 液體測(cè)量支架
SH-721C 液體測(cè)量支架，適配于12.5×12.5×45mm石英比色皿。 通過(guò)可以準(zhǔn)確定位激光焦距，使得檢測(cè)更加便捷，準(zhǔn)確。 遮光帽設(shè)計(jì)，有效避免環(huán)境光對(duì)檢測(cè)的影響。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-19 ￥面議
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- SH-RAM-ADJ可調(diào)節(jié)探頭適配件
SH-RAM-ADJ可調(diào)節(jié)探頭適配件是適用于帶包裝樣品檢測(cè)的定位附件，通過(guò)旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)適配器前后位置，使探測(cè)激光更聚焦在樣品上，避免因容器壁厚造成激光聚焦位置不準(zhǔn)等問(wèn)題。 該產(chǎn)品選用鋁合金加工而成，已經(jīng)過(guò)氧化發(fā)黑處理，可長(zhǎng)期使用，可與任何容器器皿直接接觸。SH-RAM-ADJ探頭適配件可配套用于RYMO自主研發(fā)的各類(lèi)拉曼探頭或熒光探頭，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品信號(hào)的采樣定位和屏蔽環(huán)境光干擾。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-19 ￥面議
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- SH-RAM-D10可微調(diào)探頭測(cè)量支架
SH-RAM-D10是一款緊湊型的可微調(diào)探頭測(cè)量支架，適用于本公司的各系列拉曼探頭和熒光探頭。 SH-RAM-D10可微調(diào)探頭測(cè)量支架是小型的入門(mén)級(jí)定位設(shè)備，適用于有限空間的理想選擇。該產(chǎn)品底座直徑100mm，可提供120mm的行程。該產(chǎn)品底座直徑100mm，可提供120mm的行程。 該支架選用優(yōu)質(zhì)鋁合金加工而成，表面采用亞光磨砂發(fā)黑處理，增加視覺(jué)上的美觀效果，使支架經(jīng)久耐用。采用精密轉(zhuǎn)造的M3
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-19 ￥面議
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- SH-RAM-FFP 探頭適配件
SH-RAM-FFP 探頭適配件是用于固體樣品的檢測(cè)位置定位，防止因樣品擺放位置而造成激光未聚焦的問(wèn)題。 該產(chǎn)品選用POM加工而成，可長(zhǎng)期使用，且POM的優(yōu)勢(shì)即不磨傷樣品。SH-RAM-FFP探頭適配件可配套用于RYMO自主研發(fā)的各類(lèi)拉曼探頭或熒光探頭，實(shí)現(xiàn)對(duì)固體樣品信號(hào)的采樣定位和屏蔽環(huán)境光干擾。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-19 ￥面議
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- SH-RAM-FFS探頭適配件
SH-RAM-FFS探頭適配件用于固體樣品的檢測(cè)位置定位，防止因樣品擺放位置而造成激光未聚焦的問(wèn)題。 該產(chǎn)品選用優(yōu)質(zhì)超鋼加工而成，表面采用發(fā)黑處理，增加產(chǎn)品使用期限。SH-RAM-FFP探頭適配件可配套用于“如海光電”自主研發(fā)的各類(lèi)拉曼探頭或熒光探頭，實(shí)現(xiàn)對(duì)固體樣品信號(hào)的采樣定位和屏蔽環(huán)境光干擾。
- 型號(hào)：
- 更新日期：2023-12-19 ￥面議
